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ENJ2005-B半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng),支持電流階梯升級至1250A。采用脈沖測試法,脈沖寬度為美軍標(biāo)規(guī)定的300uS。在PC窗口提示下輸 入被測器件的測試條件點(diǎn)擊即可完成測試任務(wù)。被測器件引腳接觸自動判斷功能。系統(tǒng)采用帶有開爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測試工裝,自動補(bǔ)償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測試電 纜長度引起的壓降,保證測試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。
EN-3020C IGBT靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)針對 IGBT的靜態(tài)參數(shù)而研發(fā)的智能測試系統(tǒng),功率3500V、1500A(可擴(kuò)展),自動化程度高,按照操作人員設(shè)定的程序自動工作。計(jì)算機(jī)記錄測試結(jié) 果,測試結(jié)果可轉(zhuǎn)化為文本或EXCEL 格式存儲,工作時序、開關(guān)的動作狀態(tài),數(shù)據(jù)采集等均由計(jì)算機(jī)和PLC共同完成。 測試方法靈活,可測試單個單元和多單元的模塊,系統(tǒng)安全穩(wěn)定,人機(jī)界面友好,操作簡便。
EN-6500A IGBT動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng),是針對IGBT 器件的開關(guān)特性及內(nèi)部續(xù)流二極管的反向恢復(fù)特性而推出的全自動測試系統(tǒng)。適用于電流小于4500A,集電極電壓 小于6000V,續(xù)流 二極管正向電流小于4500A的IGBT 器件的特性參數(shù)測試。
ENJ2010 IGBT便攜式半導(dǎo)體靜態(tài)參數(shù)測試儀,是一種全新的功率半導(dǎo)體器件參數(shù)測試儀器,可用于額定電流在2-100A的IGBT和MOS管主要靜態(tài)參數(shù)的測試。儀器與配套電腦連接使用,通過友好人機(jī)界面操作,便于各 測試參數(shù)的組合、數(shù)據(jù)結(jié)果以表格形式呈現(xiàn),具有使用便捷、測試精度高等優(yōu)點(diǎn),適合于各測試器件使用現(xiàn)場及產(chǎn)線維護(hù)場合使用。
ENI1220 IPM功率模塊測試系統(tǒng)基于DSP和FPGA技術(shù),通過SPWM波形控制信號源,實(shí)時檢測IPM模塊的開關(guān)時間特性(開通/關(guān)斷時間)、電壓電流諧波特性,并判斷器件的故障保護(hù)功能(如過壓、過流、過熱等)。 ?
高壓電器耐久測試系統(tǒng)(簡稱耐久)為NGI針對汽車、軌道交通、家用電器、航空器、船舶、醫(yī)療儀器等相關(guān)產(chǎn)品中電氣回路耐久可靠性測試而專門研發(fā)的測試系統(tǒng)。
DC-DC轉(zhuǎn)換器測試系統(tǒng)主要完成DC-DC轉(zhuǎn)換器常溫測試、試驗(yàn)測試等相關(guān)工作,包括產(chǎn)品的輸入/輸出項(xiàng)測試、保護(hù)項(xiàng)測試、時序測試、通訊測試等各類測試項(xiàng)。此測試系統(tǒng)可幫助用戶實(shí)現(xiàn)DC-DC轉(zhuǎn)換器輸入/輸出電壓、 紋波、功率、源/負(fù)載效應(yīng)、耐壓等各類測試項(xiàng)參數(shù)計(jì)算及測試報表的自動生成。
多通道電源老化測試系統(tǒng)基于NGI電子負(fù)載為搭建,可以同時老化多通道電源,每個通道相互獨(dú)立,通道之間互不影響,每通道均支持CC、CV、CP、CR模式,上升、下降斜率可設(shè),提供可編程序列測試功能,多至100組序列,每個序列高達(dá)50步。具備用戶自定義測試計(jì)劃,實(shí)時數(shù)據(jù)顯示,歷史數(shù)據(jù)查詢,良品率分析等功能。是各種規(guī)格電源老化的選擇。
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